 |
Produktflyer Systemvergleich |
|||||
| ARYELLE 150 | ARYELLE 200 | ARYELLE 400 | DEMON | ELIAS | ||
| f/7 | f/10 | f/10 | f/10 | f/50 | Öffnungsverhältnis | |
| 5.000-11.000 | 12.000 | 9.000-35.000 | 75.000-150.000 | 2,5 Mio.-10 Mio. | spektrales Auf- lösungsvermögen |
|
| 190-1.100 nm | 175-1.100 nm | 175-1.100 nm | 175-1.100 nm | 157-1.100 nm | max. Wellenlängenbereich | |
| bis zu 600 nm | bis zu 600 nm | bis zu 450 nm | 1-10 nm | 8-400 pm | simultaner Inspektionsbereich | |
| 300-862 nm | 210-800 nm | 190-330 nm | 190-900 nm | 190-550 nm | Wellenlängenbereich | |
| 60-172 pm | 23-90 pm | 6-11 pm / 13-24 pm | 2,5-12 pm | 85-240 fm | Auflösung FWHM | |
| (210x120x85) mm | (260x160x185) mm | (650x280x250) mm | (750x310x230) mm | (1.400x310x250) mm | Abmaße | |
| 2 kg | 7,3 kg | 20 kg | 25 kg | 50 kg | Gewicht | |
|
Sehr kompaktes, preiswertes hochauflösendes Echelle-Spektrometer für Material-/Elemente-Analyse mit LIBS und Raman-Spektroskopie in der Industrie
|
Kompaktes hochauflösendes Echelle-Spektrometer für Material-/Elemente-Analyse mit LIBS und Raman-Spektroskopie in der Industrie
|
Leistungsstarkes hochauflösendes Echelle-Spektrometer für Material-/Elemente-Analyse mit LIBS und Raman-Spektroskopie in der Industrie und Wissenschaft
|
Sehr hochauf-
|
Höchstauflösende kommerzielle Spektrometer-Serie für die Charakterisierung von Lasern in der Mikrolithographie
|
||
